MiniTest 1100涂層測(cè)厚儀為多功能高精度的涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀功能的參數(shù)對(duì)比：
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型號(hào) |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
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MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 |
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應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
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每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
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可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
- |
1 |
500 |
500 |
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數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
|
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 |
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讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
|
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
|
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
|
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
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存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
- |
- |
- |
√ |
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分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
- |
- |
√ |
√ |
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顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
- |
√ |
√ |
√ |
|
其他功能 |
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透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
- |
√ |
√ |
√ |
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在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
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利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
|
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) |
- |
- |
√ |
√ |
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外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
- |
√ |
√ |
√ |
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保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
|
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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設(shè)置極限值 |
- |
- |
√ |
√ |
|
公英制轉(zhuǎn)換 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 |
- |
- |
√ |
√ |
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連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
- |
- |
√ |
√ |
|
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 |
√ |
√ |
√ |
√ |
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組內(nèi)單值延遲顯示 |
- |
√ |
√ |
√ |
|
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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探頭 |
量程 |
低端
分辨率 |
誤差 |
最小曲率
半徑(凸/凹) |
最小測(cè)量
區(qū)域直徑 |
最小基
體厚度 |
探頭尺寸 |
|
磁
感
應(yīng)
法 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
|
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
|
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
|
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
|
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
|
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
|
兩
用 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm |
|
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm |
|
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm |
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電
渦
流
法 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
|
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
|
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
|
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
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N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
|
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
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N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
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CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無(wú)限制 |
φ17x80mm |
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注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 | MiniTest 1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀探頭圖示
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FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
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F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
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F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層
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F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
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N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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N100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
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CN02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
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